適合低通濾光片和藍(lán)色濾光片晶體板紋理不均檢查技術(shù)介紹

發(fā)布日期：2024-05-27      瀏覽次數(shù)：814

適合低通濾光片和藍(lán)色濾光片晶體板紋理不均檢查技術(shù)介紹

用監(jiān)視器目視觀察光學(xué)元件的光學(xué)不均勻性的裝置。

該檢查裝置是將水晶板、玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋、表面的拋光不均、拋光痕跡可視化的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。

觀察到的圖像背景中有微弱的斑駁圖案。這是由于安裝的鏡頭等光學(xué)元件的表面拋光造成的，會(huì)妨礙觀察。專用軟件“ClearBack"使背景清晰，檢查更輕松。有一種稱為紋影法的觀察方法可以可視化折射率的變化，但該裝置的觀察方法是陰影圖法。這可以防止由于刀口處發(fā)生干擾而導(dǎo)致圖像變得模糊。









檢查方法	陰影圖法，顧名思義，就是“陰影圖"。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)透鏡轉(zhuǎn)換成平行光，然后被下一個(gè)透鏡會(huì)聚以拍照。如果將有條紋等缺陷的樣品放置在兩個(gè)透鏡之間，平行光就會(huì)受到干擾，導(dǎo)致圖像中出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。
觀察范圍	約φ45mm
光源	高亮度藍(lán)光LED
測量波長	450-465nm
有效像素	1080(水平)×824(垂直)
調(diào)光功能	音量調(diào)暗
外形尺寸（主體）	水平（標(biāo)準(zhǔn)）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可選）W380 x D455 x H1245mm
體重（身體）	29公斤
作品	主機(jī)/PC/電纜
配件	樣品架/機(jī)身蓋
選項(xiàng)	立式支架（重量：10kg）
使用環(huán)境	攝氏度10~35度濕度20~80%（無凝結(jié)）
顯示器最大分辨率	1920 x 1200（24 英寸寬）
操作系統(tǒng)	Windows 10（64位）
軟件	專用軟件“ClearBack" 圖像亮度不均勻校正使背景均勻，更容易確認(rèn)缺陷。