日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產(chǎn)品特點(diǎn)

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES

根據(jù)測量目標(biāo)交換并使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型）。

•世界首chuang的便攜式薄層電阻測量裝置，可以替換和使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型） •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：z多100（*從新數(shù)據(jù)顯示）

•保存的數(shù)據(jù)數(shù)量：z多50,000（*軟件顯示）
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
（*大于每個(gè)探頭的測量點(diǎn)尺寸）

<測量點(diǎn)>

?無損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測量范圍

?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探針法）：0.1 -4000Ω/ sq