日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

 日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

配備自動對焦
選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢

?自動測量模式
⇒將要測量的物體放在激光筆照射位置，關(guān)門時，載物
　臺將自動移動并自動進行測量。
-手動測量模式
⇒類似于上面的自動測量模式，當設(shè)置了要測量的物體并且
　門關(guān)閉時，載物臺會自動移動甚至聚焦

熒光X射線膜測厚儀EX-851的特點

多測量/多校準線

記錄坐標并從激光指示器的照射位置自動測量多個點。
可以使用不同的校準線測量多個點。

自動對焦

只需將測量單元對準激光指示器的位置，然后關(guān)上門即可自動移至測量值并執(zhí)行測量。
測量后，打開門，載物臺將自動返回到前面。

采用雙重過濾器

通過使用除中性過濾器之外的機械過濾器（雙重過濾器），可以在z佳條件下進行測量，從而始終獲得z高的精度。

增強的報告創(chuàng)建功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強報告創(chuàng)建功能。
使用多任務(wù)功能，即使在測量過程中，也可以進行包括報告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。

內(nèi)置5種準直儀

z小準直儀為0.1φmm，可測量極小的零件。
標準0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

自診斷功能會立即采取措施解決設(shè)備問題。
另外，增加了X射線管的使用時間和耐用時間顯示功能，以確保維護安全。

膜厚測量中的頻譜顯示

多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。（處理速度約2至3秒）

顯示測量單元監(jiān)控圖像

將X射線照射部件導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。
準直儀實現(xiàn)改變尺寸的放大率改變功能。

可視化顯示被測物的鍍層附著力分布

3D圖形顯示使您可以一目了然地檢查被測物體的鍍層厚度分布。

Be窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）

我們已經(jīng)為熒光X厚度計準備了Be窗口X射線管。

通過使用Be窗口X射線管，顯著提高了Cr測量和Ni測量的重復(fù)測量精度。

與標準X射線管的比較

高能量（高原子序數(shù)）Sn等的測量與以前相同。

當測量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時，重復(fù)精度提高了Cr約3倍，Ni約2倍。

當測量兩層時，中間層Ni的測??量精度提高了約20％。

通過使用Be窗X射線管，在Cr的情況下，與常規(guī)標準機器相比，可以獲得約9倍或更大的熒光X射線強度。

因此，可以在短時間內(nèi)以與以前相同的精度進行測量。

請考慮使用此Be窗口X射線管。

  日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

熒光X射線膜厚計EX-851的規(guī)格