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                  日本nanophoton隨機(jī)掃描共焦拉曼顯微鏡

                  訪問次數(shù):2084

                  更新日期:2025-05-02

                  簡要描述:

                  日本nanophoton隨機(jī)掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk
                  拉曼顯微鏡的最大缺點是測量時間非常長。我通過使用隨機(jī)過程理論和信息論成功地解決了這個問題。在沒有關(guān)于樣品的前瞻信息的情況下,激光束沿著路徑掃描,并且可以在 5 到 10 倍于傳統(tǒng)掃描拉曼顯微鏡的測量時間內(nèi)獲得圖像。

                  日本nanophoton隨機(jī)掃描共焦拉曼顯微鏡
                  品牌其他品牌類型其他
                  測量范圍1產(chǎn)地進(jìn)口

                  日本nanophoton隨機(jī)掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk

                  基于隨機(jī)過程理論和信息論的原始光束掃描

                  顯著減少點掃描的測量時間

                  拉曼顯微鏡的最大缺點是測量時間非常長。我通過使用隨機(jī)過程理論和信息論成功地解決了這個問題。在沒有關(guān)于樣品的前瞻信息的情況下,激光束沿著路徑掃描,并且可以在 5 到 10 倍于傳統(tǒng)掃描拉曼顯微鏡的測量時間內(nèi)獲得圖像。

                  無需預(yù)處理的快速篩查

                  RAMANwalk 的內(nèi)置掃描方法不需要先驗信息。即使對于顯微鏡難以找到的樣品,如果拉曼散射具有特征,光束也可以像活的一樣自動搜索,并且可以快速獲得必要的數(shù)據(jù)。雖然不需要整體信息,但如果存在異物,則在測量 NG 等樣品時非常有效。

                  一切都在一個緊湊而美觀的外殼中

                  通過僅使用點掃描光學(xué)系統(tǒng),RAMANwalk 實現(xiàn)了緊湊的系統(tǒng)。緊湊的系統(tǒng)安裝在一個漂亮的外殼中。它結(jié)合了拉曼顯微鏡所需的光學(xué)系統(tǒng)和電動調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。通過最大限度地減少分析所需的時間和精力,我們實現(xiàn)了適合高速的可用性。


                  日本nanophoton隨機(jī)掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk

                  規(guī)格

                  主要業(yè)績


                  空間分辨率XY 350 nm,Z 1000 nm(100x 物鏡,0.9NA)
                  光譜測量范圍100 厘米-1 ~
                  光譜分辨率 (FWHM)1.5cm -1 (@785nm, 1200g/mm)
                  光譜像素分辨率0.74cm -1 /pixel (@785 nm, 1200 g/mm)


                  主要配置


                  激光波長1 或 2 個波長(可選擇 488 nm、532 nm、671 nm、785 nm)
                  激光照射方式點光源
                  衍射光柵600 g/mm,最多同時安裝 3 個(可選)
                  探測器高靈敏度熱電冷卻 CCD 1650 像素
                  掃描方式XY 光束掃描
                  Z 平臺掃描
                  遮光罩帶聯(lián)鎖
                  尺寸(寬x深x高)298×854×436mm
                  選項XY電動載物臺
                  針孔測量
                  偏振拉曼測量
                  低波數(shù)測量 (50 cm -1 )
                  特殊峰移測量





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